SPARC研讨会:6月24日
为增强材料的x射线数据类型的融合特征
教授。埃里克•米勒电气和计算机工程的教授和主席,塔夫茨大学,博士。丹Strellis研发、老主任Rapiscan系统
6月24日研讨会的幻灯片和视频演示网上!
警报是推出一个免费的在线夏季系列题为SPARC促进预警研究和协作(研讨会)。SPARC的目的是给你一个预览的突破性的技术演示了预警技术展示在11月。
第一个系列的研讨会将在举行6月24日——旧从十一点半。可以找到更多信息表示如下:
标题:为增强材料的x射线数据类型的融合特征
主持人:埃里克•米勒电气和计算机工程的教授和主席,塔夫茨大学丹Strellis研发、老主任Rapiscan系统
文摘:提高x射线方法对材料的功能特性要求我们利用x射线与物质的相互作用超出了通常被认为是衰减的过程。在这里,我们讨论最近的工作在基于x射线成像方案的收集和处理光子散射和绕射除了典型光束传播。我们的第一个重点是融合的散射和衰减数据来改善电子密度和有效原子序数的复苏。然后我们继续制定和解决方案的新的映射布拉格横截面成像问题的函数空间和动量转移。在这两种情况下,我们提供了一个制定的物理过程Radon-type积分超过家庭的曲线,说明生成的数学分析导致实用算法。DHS-relevant例子提供传感几何图形都是由Rapiscan RTT6040。
演讲者Bios:
教授埃里克•米勒获得学士学位1990人,硕士学位1992人,博士学位1994年,麻省理工学院的电气工程和计算机科学。他是一个教授和系主任的塔夫茨大学电气和计算机工程学院工程和兼职任命在计算机科学和生物医学工程的部门。他的研究兴趣包括基于物理层析成像和对象特征,逆问题、特别是逆散射,正规化,统计信号和图像处理,计算物理建模。
丹Strellis博士是研发高级主管Rapican系统。他领导这个项目团队交付研发项目提供创新技术Rapiscan系统检测产品线和政府客户。Strellis博士获得了加州大学的核能工程博士学位。
如果你有兴趣参加或有任何问题,请联系蒂芙尼林(电子邮件保护)为更多的信息。
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